PRICES include / exclude VAT
Homepage>CSN Standards>35 ELECTRICAL ENGINEERING>3587 Semiconductor elements>CSN EN 60749-15 ed. 2 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 15: Resistance to soldering temperature for through-hole mounted devices
Sponsored link
Not available online - contact us!
Released: 01.07.2011
CSN EN 60749-15 ed. 2 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 15: Resistance to soldering temperature for through-hole mounted devices

CSN EN 60749-15 ed. 2

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 15: Resistance to soldering temperature for through-hole mounted devices

CURRENCY
57.78 USD
FREE Shipping
Number of Standard:CSN EN 60749-15 ed. 2
Category:358799
Pages:16
Released:01.07.2011
Catalog number:88691
DESCRIPTION

CSN EN 60749-15 ed. 2

CSN EN 60749-15 ed. 2 Tato norma popisuje zkoušku, která stanovuje zda-li zapouzdřená součástka, která je určena pro vývodovou montáž, odolává teplotě pájení při pájení vlnou, nebo páječkou. V případě, že se stanovuje reprodukovatelný normalizovaný zkušební postup, používá se smáčecí metoda, která je nejlépe říditelná. Tato metoda určí, zda-li je součástka schopna odolávat teplotě při pájení, kterému je při montáži vystavena, bez toho aniž by se zhoršily elektrické charakteristiky a charakter vnitřního propojení. Jedná se o destruktivní zkoušku a může být použita pro kvalifikaci, přejímku dávky a pro sledování výrobního procesu. Tato zkouška je v podstatě ve shodě s normou IEC 60068-2-20, ale v důsledku specifických požadavků na polovodiče je třeba respektovat požadavky této normy.
Original English text of CSN EN Standard.
The price of the Standard included all amendments and correcturs.