PRICES include / exclude VAT
Homepage>CSN Standards>35 ELECTRICAL ENGINEERING>3587 Semiconductor elements>CSN EN 60749-17 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 17: Neutron irradiation
Sponsored link
Not available online - contact us!
Released: 01.12.2003
CSN EN 60749-17 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 17: Neutron irradiation

CSN EN 60749-17

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 17: Neutron irradiation

CURRENCY
57.78 USD
FREE Shipping
Number of Standard:CSN EN 60749-17
Category:358799
Pages:16
Released:01.12.2003
Catalog number:69112
DESCRIPTION

CSN EN 60749-17

CSN EN 60749-17 Zkouška neutronovým zářením se provádí, aby se určila náchylnost polovodičových součástek ke zničení v neutronovém prostředí. Zkouška, která je zde popisována, je vhodná pro integrované obvody diskrétní součástky. Tato zkouška je určena pro vojenské a kosmické účely. Je to destruktivní zkouška. Cíle zkoušky jsou tyto: a) zjistit a změřit degradaci kritických parametrů polovodičové součástky, jako funkci působení proudu neutronů, b) určit, jestli stanovené parametry polovodičové součástky jsou ve stanovených mezích po vystavení účinku proudu neutronů stanovené úrovně.
Original English text of CSN EN Standard.
The price of the Standard included all amendments and correcturs.