PRICES include / exclude VAT
Homepage>CSN Standards>35 ELECTRICAL ENGINEERING>3587 Semiconductor elements>CSN EN 60749-43 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 43: Guidelines for IC reliability qualification plans
Sponsored link
Released: 01.01.2018
CSN EN 60749-43 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 43: Guidelines for IC reliability qualification plans

CSN EN 60749-43

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 43: Guidelines for IC reliability qualification plans

Format
Availability
Price and currency
English Hardcopy
In stock
93.33 USD
FREE Shipping
Number of Standard:CSN EN 60749-43
Category:358799
Pages:48
Released:01.01.2018
Catalog number:504152
DESCRIPTION

CSN EN 60749-43

CSN EN 60749-43 Tato norma poskytuje pokyny pro kvalifikační plány spolehlivosti výrobků polovodičových integrovaných obvodů (IC). Tento dokument není určen pro vojenské a kosmické aplikace. POZNÁMKA 1: Výrobce může používat flexibilní rozsahy výběru vzorku, aby snížil náklady a udržel přiměřenou spolehlivost. Toto přizpůsobení založené na EDR-4708, AEC Q100, JESD47 nebo jiném relevantním dokumentu může být také použitelné, pokud je specifikováno POZNÁMKA 2: Weibullova distribuční metoda použitá v tomto dokumentu je jednou z několika metod pro výpočet vhodného rozsahu výběru vzorku a zkušebních podmínek pro daný projekt spolehlivosti.
Original English text of CSN EN Standard.
The price of the Standard included all amendments and correcturs.