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UNE EN 60749-43:2017
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 43: Guidelines for IC reliability qualification plans (Endorsed by Asociación Española de Normalización in October of 2017.)
Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 43: Directrices para los planes de cualificación de fiabilidad de circuitos integrados (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en octubre de 2017.)
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| Standard number: | UNE EN 60749-43:2017 |
| Pages: | 46 |
| Released: | 2017-10-01 |
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This standard UNE EN 60749-43:2017 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 43: Guidelines for IC reliability qualification plans (Endorsed by Asociación Española de Normalización in October of 2017.) is classified in these ICS categories:
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